在測量站使用 MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測量。
根據(jù)測量任務(wù),可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進行表面粗糙度測量,或使用 PCV 驅(qū)動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。
·節(jié)省空間型設(shè)計:兩個驅(qū)動裝置可使用相應(yīng)的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
·一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
·使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統(tǒng)對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和極高的分辨率
· 只需在軟件平臺內(nèi)進行切換并更換驅(qū)動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
技術(shù)數(shù)據(jù)
接觸速度(Z 方向) | 0.1 至 1 mm/s |
測桿長度 | 175 mm, 350 mm |
測量速度(文本) | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
針尖半徑 | 25 |
掃描長度末尾(X 方向) | 200 mm |
分辨率 | Z 方向,相對探針針頭:0.38 μm(350 mm 測桿)/ 0.19 μm(175 mm 測桿) Z 方向,相對測量系統(tǒng):0.04 μm |
掃描長度開始(X 方向) | 0.2 mm |
取樣角 | 在平滑表面上,取決于偏差:后緣高至 88°,前緣高至 77° |
定位速度(文本) | X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s |
導(dǎo)塊偏差 | < 1 μm(200 mm 以上) |
測量原則 | 探針法 |
輸入 | R 測頭,MFW 250 |
測量范圍 mm | (in Z) 50 mm |
掃描長度(文本) | 自動;0.56 mm;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm, |
采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1 至 50(默認(rèn):5) |
測量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右(可在 MarSurf XC 20 中設(shè)置) |
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